JC-50 ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಬೀಮ್ ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಟೆಸ್ಟಿಂಗ್ ಮೆಷಿನ್

ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಬೀಮ್ ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಟೆಸ್ಟಿಂಗ್ ಯಂತ್ರವನ್ನು ಲೋಹವಲ್ಲದ ವಸ್ತುಗಳ ಪ್ರಭಾವದ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ನಿರ್ಧರಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಗಟ್ಟಿಯಾದ ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್‌ಗಳು, ಬಲವರ್ಧಿತ ನೈಲಾನ್, ಗ್ಲಾಸ್ ಫೈಬರ್ ಬಲವರ್ಧಿತ ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್‌ಗಳು, ಸೆರಾಮಿಕ್ಸ್, ಎರಕಹೊಯ್ದ ಕಲ್ಲು, ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್ ಉಪಕರಣಗಳು, ಇನ್ಸುಲೇಟಿಂಗ್ ವಸ್ತುಗಳು ಇತ್ಯಾದಿ. ಇದನ್ನು ಯಾಂತ್ರಿಕವಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಲಾಗಿದೆ ( ಪಾಯಿಂಟರ್ ಡಯಲ್) ಮತ್ತು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್. ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಕಿರಣದ ಪ್ರಭಾವದ ಪರೀಕ್ಷಾ ಯಂತ್ರವು ಹೆಚ್ಚಿನ ನಿಖರತೆ, ಉತ್ತಮ ಸ್ಥಿರತೆ ಮತ್ತು ದೊಡ್ಡ ಅಳತೆ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ; ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಪ್ರಕಾರವು ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಗ್ರ್ಯಾಟಿಂಗ್ ಕೋನ ಮಾಪನ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಅಳವಡಿಸಿಕೊಂಡಿದೆ, ಯಾಂತ್ರಿಕ ಪಂಚಿಂಗ್‌ನ ಅನುಕೂಲಗಳ ಜೊತೆಗೆ, ಇದು ಬ್ರೇಕಿಂಗ್ ಪವರ್, ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಸ್ಟ್ರೆಂತ್, ಪ್ರಿ-ಎಲಿವೇಶನ್ ಕೋನ, ಲಿಫ್ಟ್ ಕೋನ, ಬ್ಯಾಚ್‌ನ ಸರಾಸರಿ ಮೌಲ್ಯ, ಶಕ್ತಿಯ ನಷ್ಟವನ್ನು ಡಿಜಿಟಲ್ ಆಗಿ ಅಳೆಯಬಹುದು ಮತ್ತು ಪ್ರದರ್ಶಿಸಬಹುದು. ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ಸರಿಪಡಿಸಲಾಗಿದೆ; ಐತಿಹಾಸಿಕ ಮಾಹಿತಿಯ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸಬಹುದು. ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಸಂಶೋಧನಾ ಸಂಸ್ಥೆಗಳು, ಕಾಲೇಜುಗಳು ಮತ್ತು ವಿಶ್ವವಿದ್ಯಾನಿಲಯಗಳು, ಎಲ್ಲಾ ಹಂತಗಳಲ್ಲಿನ ಉತ್ಪಾದನಾ ತಪಾಸಣಾ ಸಂಸ್ಥೆಗಳು ಮತ್ತು ವಸ್ತು ಉತ್ಪಾದನಾ ಘಟಕಗಳಲ್ಲಿ ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಕಿರಣದ ಪ್ರಭಾವ ಪರೀಕ್ಷೆಗಾಗಿ ಸರಳ ಕಿರಣದ ಪ್ರಭಾವ ಪರೀಕ್ಷೆ ಯಂತ್ರ ಸರಣಿ ಪರೀಕ್ಷಾ ಯಂತ್ರಗಳನ್ನು ಬಳಸಬಹುದು.

ಉತ್ಪನ್ನ ಪರಿಚಯ:
ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಬೀಮ್ ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಟೆಸ್ಟಿಂಗ್ ಯಂತ್ರವನ್ನು ಲೋಹವಲ್ಲದ ವಸ್ತುಗಳ ಪ್ರಭಾವದ ಶಕ್ತಿಯನ್ನು ನಿರ್ಧರಿಸಲು ಬಳಸಲಾಗುತ್ತದೆ ಗಟ್ಟಿಯಾದ ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್‌ಗಳು, ಬಲವರ್ಧಿತ ನೈಲಾನ್, ಗ್ಲಾಸ್ ಫೈಬರ್ ಬಲವರ್ಧಿತ ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್‌ಗಳು, ಸೆರಾಮಿಕ್ಸ್, ಎರಕಹೊಯ್ದ ಕಲ್ಲು, ಪ್ಲಾಸ್ಟಿಕ್ ಉಪಕರಣಗಳು, ಇನ್ಸುಲೇಟಿಂಗ್ ವಸ್ತುಗಳು ಇತ್ಯಾದಿ. ಇದನ್ನು ಯಾಂತ್ರಿಕವಾಗಿ ವಿಂಗಡಿಸಲಾಗಿದೆ ( ಪಾಯಿಂಟರ್ ಡಯಲ್) ಮತ್ತು ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್. ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಕಿರಣದ ಪ್ರಭಾವದ ಪರೀಕ್ಷಾ ಯಂತ್ರವು ಹೆಚ್ಚಿನ ನಿಖರತೆ, ಉತ್ತಮ ಸ್ಥಿರತೆ ಮತ್ತು ದೊಡ್ಡ ಅಳತೆ ವ್ಯಾಪ್ತಿಯ ಗುಣಲಕ್ಷಣಗಳನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ; ಎಲೆಕ್ಟ್ರಾನಿಕ್ ಪ್ರಕಾರವು ವೃತ್ತಾಕಾರದ ಗ್ರ್ಯಾಟಿಂಗ್ ಕೋನ ಮಾಪನ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಅಳವಡಿಸಿಕೊಂಡಿದೆ, ಯಾಂತ್ರಿಕ ಪಂಚಿಂಗ್‌ನ ಅನುಕೂಲಗಳ ಜೊತೆಗೆ, ಇದು ಬ್ರೇಕಿಂಗ್ ಪವರ್, ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಸ್ಟ್ರೆಂತ್, ಪ್ರಿ-ಎಲಿವೇಶನ್ ಕೋನ, ಲಿಫ್ಟ್ ಕೋನ, ಬ್ಯಾಚ್‌ನ ಸರಾಸರಿ ಮೌಲ್ಯ, ಶಕ್ತಿಯ ನಷ್ಟವನ್ನು ಡಿಜಿಟಲ್ ಆಗಿ ಅಳೆಯಬಹುದು ಮತ್ತು ಪ್ರದರ್ಶಿಸಬಹುದು. ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ಸರಿಪಡಿಸಲಾಗಿದೆ; ಐತಿಹಾಸಿಕ ಮಾಹಿತಿಯ ಮಾಹಿತಿಯನ್ನು ಸಂಗ್ರಹಿಸಬಹುದು. ವೈಜ್ಞಾನಿಕ ಸಂಶೋಧನಾ ಸಂಸ್ಥೆಗಳು, ಕಾಲೇಜುಗಳು ಮತ್ತು ವಿಶ್ವವಿದ್ಯಾನಿಲಯಗಳು, ಎಲ್ಲಾ ಹಂತಗಳಲ್ಲಿನ ಉತ್ಪಾದನಾ ತಪಾಸಣಾ ಸಂಸ್ಥೆಗಳು ಮತ್ತು ವಸ್ತು ಉತ್ಪಾದನಾ ಘಟಕಗಳಲ್ಲಿ ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಕಿರಣದ ಪ್ರಭಾವ ಪರೀಕ್ಷೆಗಾಗಿ ಸರಳ ಕಿರಣದ ಪ್ರಭಾವ ಪರೀಕ್ಷೆ ಯಂತ್ರ ಸರಣಿ ಪರೀಕ್ಷಾ ಯಂತ್ರಗಳನ್ನು ಬಳಸಬಹುದು. ಸರಳವಾಗಿ ಬೆಂಬಲಿತ ಬೀಮ್ ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಟೆಸ್ಟಿಂಗ್ ಮೆಷಿನ್ ಸರಣಿಯು ಮೈಕ್ರೋ-ಕಂಟ್ರೋಲ್ ಪ್ರಕಾರವನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ, ಇದು ಪರೀಕ್ಷಾ ಡೇಟಾವನ್ನು ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತವಾಗಿ ಮುದ್ರಿತ ವರದಿಯಾಗಿ ಪ್ರಕ್ರಿಯೆಗೊಳಿಸಲು ಕಂಪ್ಯೂಟರ್ ನಿಯಂತ್ರಣ ತಂತ್ರಜ್ಞಾನವನ್ನು ಅಳವಡಿಸಿಕೊಳ್ಳುತ್ತದೆ. ಯಾವುದೇ ಸಮಯದಲ್ಲಿ ಪ್ರಶ್ನೆ ಮತ್ತು ಮುದ್ರಣಕ್ಕಾಗಿ ಡೇಟಾವನ್ನು ಕಂಪ್ಯೂಟರ್‌ನಲ್ಲಿ ಸಂಗ್ರಹಿಸಬಹುದು.

ಕಾರ್ಯನಿರ್ವಾಹಕ ಮಾನದಂಡ:
ಉತ್ಪನ್ನಗಳು ENISO179 ಅನ್ನು ಪೂರೈಸುತ್ತವೆ; ಪರೀಕ್ಷಾ ಸಲಕರಣೆಗಳ ಅವಶ್ಯಕತೆಗಳಿಗಾಗಿ GB/T1043, ISO9854, GB/T18743, DIN53453 ಮಾನದಂಡಗಳು.

ತಾಂತ್ರಿಕ ನಿಯತಾಂಕ:
1. ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ವೇಗ: 3.8m/s
2. ಲೋಲಕ ಶಕ್ತಿ: 7.5J, 15J, 25J, 50J
3. ಲೋಲಕದ ಕ್ಷಣ: Pd7.5=4.01924Nm Pd15=8.03848Nm Pd25=13.39746Nm Pd50=26.79492Nm
4. ಸ್ಟ್ರೈಕ್ ಸೆಂಟರ್ ದೂರ: 395mm
5. ಲೋಲಕ ಕೋನ: 150°
6. ನೈಫ್ ಎಡ್ಜ್ ಫಿಲೆಟ್ ತ್ರಿಜ್ಯ: R=2±0.5mm
7. ದವಡೆಯ ತ್ರಿಜ್ಯ: R=1±0.1mm
8. ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಬ್ಲೇಡ್‌ನ ಕೋನವನ್ನು ಸೇರಿಸಲಾಗಿದೆ: 30±l °
9. ಲೋಲಕದ ಪ್ರಭಾವದ ಶಕ್ತಿ ನಷ್ಟ: 0.5%
10. ದವಡೆಯ ಅಂತರ: 60mm, 70mm, 95mm
11. ಆಪರೇಟಿಂಗ್ ತಾಪಮಾನ: 15℃-35℃
12. ವಿದ್ಯುತ್ ಮೂಲ: AC220V, 50Hz
13. ಸಂಖ್ಯೆಯ ಪ್ರದರ್ಶನದ ಕನಿಷ್ಠ ಸೂಚಕ ಮೌಲ್ಯ: 5J ಮೇಲೆ 0.01J
14. ಡಿಜಿಟಲ್ ಡಿಸ್ಪ್ಲೇ ಇಂಪ್ಯಾಕ್ಟ್ ಯಂತ್ರವು ಕೋನದ ಸ್ವಯಂ ಗುರುತಿಸುವಿಕೆ, ಶಕ್ತಿಯ ನಷ್ಟದ ಸ್ವಯಂಚಾಲಿತ ಪರಿಹಾರ ಮತ್ತು ಹೆಚ್ಚಿನ ನಿಖರತೆಯ ಕಾರ್ಯವನ್ನು ಹೊಂದಿದೆ.
15. ಮಾದರಿ ದರ್ಜೆ: ಎ-ಟೈಪ್ ನಾಚ್ 45°±1°, ನಾಚ್ ಬಾಟಮ್ ತ್ರಿಜ್ಯ R=0.25±0.05mm, B-ನಾಚ್ 45°±1° ದರ್ಜೆಯ ಕೆಳಭಾಗದ ತ್ರಿಜ್ಯ R=1±0.05mm, C-ನಾಚ್ 1 2±0.2 ಬಲ-ಕೋನ ನಾಚ್ C-ಟೈಪ್ ನಾಚ್ 2 0.8±0.1 ಬಲ-ಕೋನ ದರ್ಜೆ